Máquina de Medição por Coordenadas Óptica Tipo Pórtico para Metrologia de Semicondutores e Inspeção Industrial
Medidor Óptico Avançado Tipo Gantry para Metrologia de Semicondutores – Série Carina Descrição do Produto Máquinas de Medição por Coordenadas (CMM) As máquinas de medição por coordenadas MXP fornecem as medições precisas e rápidas que você precisa para garantia de qualidade. Nossas máquinas de mediç...
Máquina de Medição por Coordenadas Óptica Tipo Pórtico
,Máquina de Medição por Coordenadas Óptica para Semicondutores
,Medição por Coordenadas Óptica para Inspeção Industrial
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Modelo
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CARINA
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URSA
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DARCO
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565
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686/8106
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10158
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121510
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153010
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8106
|
10158
|
121510
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Precisão PH10M+TP20
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MPEe (µm)
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1.7+L/333
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1.8+L/333
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1.8+L/333
|
2.2+L/333
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2.4+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
1.9+L/333
|
|
MPEp (µm)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
|
2.5
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Precisão PH10M+SP25
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MPEe (µm)
|
1.5+L/333
|
1.5+L/333
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1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (µm)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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Precisão PH20+TP20
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MPEe (µm)
|
1.7+L/333
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1.8+L/333
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1.8+L/333
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2.2+L/333
|
2.4+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
1.9+L/333
|
|
MPEp (µm)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
|
2.5
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Precisão MH20i
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MPEe (µm)
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1.7+L/333
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1.8+L/333
|
1.8+L/333
|
2.2+L/333
|
2.4+L/333
|
/
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MPEp (µm)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
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Precisão REVO RSP-2
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MPEe (µm)
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1.5+L/333
|
1.5+L/333
|
1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
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MPEp (µm)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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Precisão REVO RSP-3
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MPEe (µm)
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1.5+L/333
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1.5+L/333
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1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (µm)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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Carga máxima da peça
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900~1500
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2000~3000
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1200~3000
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