Macchina CMM ottica per l'ispezione industriale della metrologia dei semiconduttori
CMM ottica avanzata in stile gantry per la metrologia dei semiconduttori Serie Carina Descrizione del prodotto Macchine per la misurazione delle coordinate (CMM) Le macchine di misurazione delle coordinate MXP forniscono le misurazioni precise e veloci necessarie per garantire la qualità.Le nostre ...
Macchina CMM ottica di tipo Gantry
,Macchine CMM ottiche per semiconduttori
,CMM ottico per ispezioni industriali
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Modello
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Carina
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URSA
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DARCO
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565
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686/8106
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10158
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121510
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153010
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8106
|
10158
|
121510
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||
|
Precisione PH10M+TP20
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MPEe (um)
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1.7+L/333
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1.8+L/333
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1.8+L/333
|
2.2+L/333
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2.4+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
1.9+L/333
|
|
MPEp (um)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
|
2.5
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||||
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Precisione PH10M+SP25
|
MPEe (um)
|
1.5+L/333
|
1.5+L/333
|
1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (um)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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Precisione PH20+TP20
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MPEe (um)
|
1.7+L/333
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1.8+L/333
|
1.8+L/333
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2.2+L/333
|
2.4+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
1.9+L/333
|
|
MPEp (um)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
|
2.5
|
||||
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Precisione MH20i
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MPEe (um)
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1.7+L/333
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1.8+L/333
|
1.8+L/333
|
2.2+L/333
|
2.4+L/333
|
/
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||
|
MPEp (um)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
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Precisione REVO RSP-2
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MPEe (um)
|
1.5+L/333
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1.5+L/333
|
1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (um)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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||
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Precisione REVO RSP-3
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MPEe (um)
|
1.5+L/333
|
1.5+L/333
|
1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (um)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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Carico massimo della parte
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900~1500
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2000~3000
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1200~3000
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