O sistema de metrologia óptica 3D de alta precisão da Darco para semicondutores
Sistema de Metrologia Óptica 3D de Alta Precisão Darco As máquinas de medição de coordenadas MXP fornecem medições precisas e rápidas essenciais para a garantia da qualidade em aplicações industriais exigentes.Os nossos sistemas CMM fornecem medições 3D precisas para as necessidades de inspecção de ...
Sistema de metrologia óptica de projeto de pórtico
,Sistema de Metrologia Óptica 3D semicondutor
,Sistema de metrologia óptica para semicondutores

| Modelo | Carina | URSA | DARCO |
|---|---|---|---|
| 565 ∙ 686 ∙ 8106 ∙ 10158 ∙ 121510 ∙ 153010 ∙ 8106 ∙ 10158 121510 | |||
| Precisão PH10M+TP20 | MPEe (um): 1,7+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1,8+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1,8+L/333 MPEp (um): 2.7 |
| Precisão PH10M+SP25 | MPEe (um): 1,5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1,5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1,9+L/333 MPEp (um): 1.9 |
| Precisão PH20+TP20 | MPEe (um): 1,7+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1,8+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1,8+L/333 MPEp (um): 2.7 |
| Precisão MH20i | MPEe (um): 1,7+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1,8+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1,8+L/333 MPEp (um): 2.7 |
| Precisão REVO RSP-2 | MPEe (um): 1,5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1,5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1,9+L/333 MPEp (um): 1.9 |
| Precisão REVO RSP-3 | MPEe (um): 1,5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1,5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1,9+L/333 MPEp (um): 1.9 |
| Carga máxima da peça | 900 ~ 1500 | 2000~3000 | 1200 ~ 3000 |

- Indústria aeroespacial:Medição de precisão de componentes e conjuntos críticos
- Indústria automóvel:Garantia da qualidade dos processos de fabrico e montagem
- Indústria Eletrónica:Inspecção de alta precisão de componentes em miniatura e PCB
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