سیستم اندازهشناسی نوری سهبعدی با دقت بالا دارکو، طراحی گانتری برای نیمههادیها
سیستم سنجش نوری سه بعدی دارکو با دقت بالا دستگاه های اندازه گیری مختصات MXP اندازه گیری های دقیق و سریع را که برای تضمین کیفیت در کاربردهای صنعتی سخت ضروری است، ارائه می دهند.سیستم های CMM ما اندازه گیری های دقیق سه بعدی را برای نیازهای بازرسی تماس و بدون تماس فراهم می کنداز سُند های پیشرفته برای جم...
طراحی گانتری سیستم اندازهشناسی نوری,سیستم اندازهشناسی نوری سهبعدی نیمههادی,سیستم اندازهشناسی نوری برای نیمههادیها
,semiconductor 3D Optical Metrology System
,Optical Metrology System for Semiconductors

| مدل | کارینا | URSA | دارکو |
|---|---|---|---|
| ۵۶۵٬ ۶۸۶٬ ۸۱۰۶٬ ۱۰۱۵۸٬ ۱۲۱۵۱۰٬ ۱۵۳۰۱۰٬ ۸۱۰۶٬ ۱۰۱۵۸٬ ۱۲۱۵۱۰ | |||
| دقت PH10M+TP20 | MPEe (um): 1.7+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1.8+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1.8+L/333 MPEp (um): 2.7 |
| دقت PH10M+SP25 | MPEe (um): 1.5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1.5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1.9+L/333 MPEp (um): 1.9 |
| دقت PH20+TP20 | MPEe (um): 1.7+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1.8+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1.8+L/333 MPEp (um): 2.7 |
| دقت MH20i | MPEe (um): 1.7+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1.8+L/333 MPEp (um): 2.5 |
MPEe (um): 1.8+L/333 MPEp (um): 2.7 |
| دقت REVO RSP-2 | MPEe (um): 1.5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1.5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1.9+L/333 MPEp (um): 1.9 |
| دقت REVO RSP-3 | MPEe (um): 1.5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1.5+L/333 MPEp (um): 1.5 |
MPEe (um): 1.9+L/333 MPEp (um): 1.9 |
| حداکثر بارگذاری قطعات | ۹۰۰ تا ۱۵۰۰ | 2000 تا 3000 | 1200 تا 3000 |

- صنعت هوافضا:اندازه گیری دقیق اجزای حیاتی و مجموعه ها
- صنعت خودرو:تضمین کیفیت برای فرآیندهای تولید و مونتاژ
- صنعت الکترونیک:بازرسی دقیق از اجزای کوچک و PCB
لطفا از فرم تماس آنلاین در زیر استفاده کنید اگر سوالی دارید، تیم ما در اسرع وقت با شما تماس خواهد گرفت.