Liên hệ với chúng tôi
Showing 90 Results For: "

optical measuring instruments

"
Kính đa đồ họa có lớp phủ quang học để hiệu chỉnh phép đo 2D/3D và kính hiển vi chính xác

Kính đa đồ họa có lớp phủ quang học để hiệu chỉnh phép đo 2D/3D và kính hiển vi chính xác

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa có lớp phủ quang học để hiệu chuẩn phép đo kính hiển vi và 2D/3D chính xác. Có độ chính xác cao, ít lỗ kim và nhiều hình dạng tham chiếu khác nhau để hiệu chuẩn dụng cụ đo nhiều phần tư.

Hệ thống quan sát ống kính kép hoàn toàn tự động VENUS để đo lường đường khâu có độ chính xác cao

Hệ thống quan sát ống kính kép hoàn toàn tự động VENUS để đo lường đường khâu có độ chính xác cao

Hệ thống quan sát ống kính kép VENUS cung cấp độ chính xác ≤3µm với công nghệ ghép trường lớn. Có tính năng vận hành CNC, bảo hành 12 tháng và thấu kính quang học tiên tiến dành cho đo lường chính xác hàng không vũ trụ, ô tô và điện tử.

Hệ thống đứng sàn VENUS dành cho các ứng dụng đo lường đường khâu liền mạch quy mô lớn, độ chính xác cao

Hệ thống đứng sàn VENUS dành cho các ứng dụng đo lường đường khâu liền mạch quy mô lớn, độ chính xác cao

VENUS Floor-Standing System for High-Precision, Large-Scale Seamless Stitching Metrology Advanced Stitching Vision Technology Inspired by celestial continuity, our VENUS Series stitching measurement systems bridge measurement gaps with seamless data fusion technology. These systems utilize multi-CCD synchronization to capture and precisely stitch localized images from different workpiece regions, creating complete and coherent profiles for accurate segment-based measurement.

Hệ thống đứng trên sàn VENUS để khâu liền mạch quy mô lớn với độ chính xác 3μm

Hệ thống đứng trên sàn VENUS để khâu liền mạch quy mô lớn với độ chính xác 3μm

Hệ thống đứng trên sàn VENUS mang lại độ chính xác ≤3μm cho đường khâu liền mạch quy mô lớn. Có ống kính telecentric và zoom tự động kép, camera 20MP và phần mềm tốc độ cực cao. Lý tưởng cho đo lường chính xác hàng không vũ trụ, ô tô và điện tử.

Hệ thống quang học viễn tâm MARS để đo lường chính xác cao các sản phẩm có bước sai khác

Hệ thống quang học viễn tâm MARS để đo lường chính xác cao các sản phẩm có bước sai khác

Hệ thống quang học viễn tâm MARS cung cấp độ chính xác đo 3μm với độ phân giải tỷ lệ tuyến tính 0,5μm. Có tính năng vận hành CNC, ống kính zoom lõm thủ công với tín hiệu phóng đại và kết cấu bằng đá cẩm thạch chắc chắn để đo sản phẩm chênh lệch bước có độ chính xác cao trong ngành hàng không vũ trụ, ô tô và điện tử.

Kính hiệu chỉnh đa đồ họa có độ chính xác cao để thiết lập thiết bị và kính hiển vi 2D/3D

Kính hiệu chỉnh đa đồ họa có độ chính xác cao để thiết lập thiết bị và kính hiển vi 2D/3D

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa có độ chính xác cao dành cho thiết lập thiết bị và kính hiển vi 2D/3D. Có độ chính xác cao, ít lỗ kim và nhiều hình dạng tham chiếu khác nhau để hiệu chuẩn nhiều phần tư. Cần thiết cho ngành hàng không vũ trụ, ô tô và điện tử.

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa Các công cụ quan trọng để đo

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa Các công cụ quan trọng để đo

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa có độ chính xác cao và ít lỗ kim thông qua quá trình phủ quang học. Với nhiều hình dạng tham chiếu khác nhau, nó cho phép hiệu chuẩn nhiều phần tư cho các thiết bị đo lường trong ngành hàng không vũ trụ, ô tô và điện tử.

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa chính xác để kiểm tra độ chính xác của hệ thống đo hình ảnh

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa chính xác để kiểm tra độ chính xác của hệ thống đo hình ảnh

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa chính xác được sản xuất thông qua quy trình phủ quang học để kiểm tra độ chính xác của hệ thống đo lường hình ảnh. Có độ chính xác cao, lỗ kim nhỏ nhất và hình dạng tham chiếu khác nhau để hiệu chuẩn nhiều phần tư thiết bị trong PCB, mạ điện kim loại, ứng dụng đo 2D/3D.

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa đảm bảo hiệu chuẩn chính xác cho các phép đo PCB và 2D/3D

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa đảm bảo hiệu chuẩn chính xác cho các phép đo PCB và 2D/3D

Kính hiệu chuẩn đa đồ họa đảm bảo hiệu chuẩn chính xác cho các phép đo PCB và 2D/3D. Được sản xuất thông qua quá trình phủ quang học với độ chính xác cao và ít lỗ kim. Có nhiều hình dạng tham chiếu khác nhau để hiệu chuẩn các dụng cụ đo theo nhiều phần tư.