Système de vision CMM 3D de haute précision pour le contrôle de la qualité des semi-conducteurs
Machine à mesurer tridimensionnelle (MMT) 3D de haute précision pour le contrôle qualité des semi-conducteurs - Série Darco Description du produit Machines à mesurer tridimensionnelles (MMT) Les machines à mesurer tridimensionnelles (MMT) MXP fournissent les mesures précises et rapides dont vous ...
Système de vision 3D CMM de haute précision
,Système CMM de contrôle de la qualité des semi-conducteurs
,Système de vision CMM pour semi-conducteurs
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Modèle
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CARINA
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URSA
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DARCO
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565
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686/8106
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10158
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121510
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153010
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8106
|
10158
|
121510
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||
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Précision PH10M+TP20
|
MPEe (µm)
|
1.7+L/333
|
1.8+L/333
|
1.8+L/333
|
2.2+L/333
|
2.4+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
1.9+L/333
|
|
MPEp (µm)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
|
2.5
|
||||
|
Précision PH10M+SP25
|
MPEe (µm)
|
1.5+L/333
|
1.5+L/333
|
1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (µm)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
|
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Précision PH20+TP20
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MPEe (µm)
|
1.7+L/333
|
1.8+L/333
|
1.8+L/333
|
2.2+L/333
|
2.4+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
1.9+L/333
|
|
MPEp (µm)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
|
2.5
|
||||
|
Précision MH20i
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MPEe (µm)
|
1.7+L/333
|
1.8+L/333
|
1.8+L/333
|
2.2+L/333
|
2.4+L/333
|
/
|
||
|
MPEp (µm)
|
2.5
|
2.5
|
2.7
|
2.8
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Précision REVO RSP-2
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MPEe (µm)
|
1.5+L/333
|
1.5+L/333
|
1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (µm)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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Précision REVO RSP-3
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MPEe (µm)
|
1.5+L/333
|
1.5+L/333
|
1.9+L/333
|
2.1+L/333
|
1.1+L/333
|
1.3+L/333
|
1.6+L/333
|
|
|
MPEp (µm)
|
1.5
|
1.5
|
1.9
|
2.1
|
1.1
|
1.3
|
1.5
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Chargement max de la pièce
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900~1500
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2000~3000
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1200~3000
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